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クリーンルーム環境やサブファブで供給・排出される超純水・液体・ガスの連続モニタリングがしたい。
省力化・省人化・環境負荷低減に向けた半導体工場モニタリングのご提案
超純水のシリカ分析に、コンパクト&高感度な新性能
純水・超純水の処理や生産プロセスにおける制御・監視に
発生ガス成分に応じたマスフローコントローラを搭載し、簡単操作で混合ガスの発生が可能
時間帯ごとの急激な変動も見逃さない自動連続測定を実現
分子状汚染物質の室内大気のトレンドを自動で監視、クリーンルーム内の汚染原因の推定に
水処理の総合的な計測・管理のために必要な測定項目をコンプリート、お客様のニーズに沿った組み合わせを網羅
UV光と光触媒で有機汚れを分解
1200℃の高温燃焼酸化方式を採用し、難分解性サンプルを高速かつ正確に計測
pH電極の薬液洗浄などを自動化しメンテナンス作業の大幅に削減
地球環境の保全と産業プロセスにおけるトータルソリューションを提供
各種、微量ガス・不純物ガス濃度を測定、微量な特殊ガスや現場環境に対応した連続監視が可能
多様なガス成分に対応、除害装置・スクラバーの排ガス濃度監視
正確かつ安定したガス濃度測定を提供、長期安定した連続計測が可能
シリコン・化合物の半導体材料分析ソリューションを数多く提案
<出展ソリューション ダウンロードページ> ・Material Characterization ・CMP Process Evaluation ・Endpoint Detection ・Fluid Control ・Chemical Concentration Monitor ・Mask Inspection ・Chamber Health Monitoring
HORIBA SHOWCASE 「SEMICON Japan 2023」 トップページにもどる