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XRF

X射線螢光光譜儀 [XRF]

X 射線螢光 (XRF) 是一種無損元素分析技術,可根據材料發出的螢光 X 射線訊號來識別材料中含有哪些元素並確定材料中元素的濃度。

在 XRF 分析儀中,能量色散 X 射線螢光 (EDXRF) 分析儀憑藉其無損方法、多元素檢測、更少的樣品製備和更短的測量時間,更適合對各種樣品應用進行篩選分析。

HORIBA 自 1956 年以來在 X 射線技術領域擁有悠久的歷史,我們不斷開發採用能量色散法的 XRF 分析儀。 HORIBA XRF分析儀已廣泛應用於各個領域:燃料電池、鋰離子電池、製藥和其他工業領域檢測異物和開發新材料,以及天體地質學、考古學、法醫學和其他研究領域執行對珍貴樣品進行非破壞性分析。

精選

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應用

XGT 系列的獨特功能和高效能為微型 XRF 技術帶來了廣泛而多樣的應用,其中快速、準確的元素分析可以解決問題並揭示自然的複雜性。

科技

HORIBA 是 X 射線螢光 (XRF) 微分析領域的專家,可為分析光斑尺寸低至 10 µm 的空間分辨 XRF 分析提供高效能解決方案。

資源

體驗我們豐富的 X 光螢光分析儀資源。我們的材料包括案例研究、影片、網路研討會、簡介和電子書,讓您更了解最新技術及其在現實世界中的應用。

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