Deposition process is a key step in the semiconductor industry. HORIBA offers a wide range of products to optimize this process and to increase the yield
Atomic layer deposition (ALD) is a thin-film deposition technique based on the sequential use of a gas phase chemical process. ALD is considered a subclass of chemical vapour deposition. The majority of ALD reactions use two chemicals, typically called precursors. These precursors react with the surface of a material one at a time in a sequential, self-limiting, manner. Through the repeated exposure to separate precursors, a thin film is slowly deposited. ALD is a key process in the fabrication of semiconductor devices, and part of the set of tools available for the synthesis of nano materials.
Plasma-Enhanced ALD is a technique where plasma is used to enhance an atomic layer deposition (ALD) process, forming a thin-film coating. Like standard ALD, PEALD reacts specific chemical precursors but also cycles an RF-plasma to better control chemical reactions within the process. This allows high levels of conformality in production. It also requires a much lower temperature than standard ALD, making it suitable for temperature-sensitive materials.
化学气相沉积(CVD)是一种通常在真空下生产高质量、高性能固体材料的沉积方法。该工艺通常用于制造半导体和薄膜生产。
在典型的化学气相沉积中,基板接触一种或多种挥发性前驱体,前驱体在基板表面发生反应和/或分解,产生所需的沉积物。根据化学气相沉积的基本原理,化学气相沉积有一系列扩展工艺,最常见的有:
常压化学气相沉积法(APCVD)
低压化学气相沉积法(LPCVD)
超高真空化学气相沉积法(UHVCVD)
气溶胶辅助化学气相沉积法(AACVD)
直接液体注入式化学气相沉积法(DLICVD)
等离子体增强化学气相沉积积法(PECVD)
远程等离子体增强化学气相沉积法(RPECVD)
原子层沉积法
金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)
物理气相沉积法(PVD)是可用于多种薄膜生产和镀层的真空沉积方法。在 PVD 工艺中,材料从固相变成气相,然后回到薄膜固相。溅射和汽化是最常见的 PVD 工艺。PVD 主要用于制造机械、光学、化学或电子功能的芯片所需要的薄膜。
溅射技术包括:磁控管溅射、离子束溅射、反应溅射、离子束辅助溅射、气流溅射。
汽化包括两个基本工艺:热源材料汽化并在基板上凝结。
高响应压力非敏感质量流量器
宽范围压敏质量流量计
质量流量控制器
数字式质量流量控制器
压差式质量流量控制器
紧凑型质量流量控制器
多量程/多气体数字质量流量控制器
新型压力补偿质量流量控制器
热式气体分流器
压电阀
数字式自动压力调节器
混合注入系统液体汽化器
直接液体注入系统
紧凑型加热汽化
大流量液体源汽化控制系统
混合注入系统液体汽化器
数字式液体质量流量计
数字式液体质量流量计/控制器
自动供液系统
Quadrupole Mass Analyzer
电容式压力计
蒸汽浓度监测仪
用于腔室清洗终点监测的高级气体监测仪
等离子体发射控制器
High-Accuracy Infrared Thermometer [Built-in type]
高精度红外温度计[内置式]
高精度红外温度计[固定式]
基于光发射光谱和 MWL 干涉测量法的工艺终点/反应腔健康监测
光发射光谱蚀刻终点监测仪
基于实时激光干涉测量的摄像头终点监测
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