脉冲式射频GD-OES的超快元素深度分析能力，常用于研究薄膜和厚膜。由于使用了脉冲射频源和高分辨率光谱仪，GD Profiler 2具有出色的深度分辨率，可以快速评估涂层质量。在本应用中我们剖析用作固体润滑剂的 MoS₂/Pb 复合多层样品。对此类样品的分析表明：GD Profiler 2在研究纳米级厚度的复合涂层时具有出色的性能。

脉冲GD-OES 和 XPS 结合研究嵌入式界面，引起了表面分析的关注，更对信息请查阅打开连接查阅发表的文章。

GD-Profiler 2™ 样本，HORIBA脉冲式射频辉光放电发射光谱结合DiP，展示了产品的功能和应用。

我们开发了一种在辉光放电发射光谱 (GD-OES) 仪器上实施的原位测量技术，该技术可在分析过程中提供深度信息。该设置基于微分干涉仪，对于 100 纳米到几十微米的溅射坑深度，可以获得优于 5% 的测量精度。这一发展可直接应用于非透明涂层，并显著改善 GD-OES 中的量化过程。

凭借20% 光电转换效率，混合钙钛矿太阳能电池被认为是下一代光伏的候选者。 由于 HORIBA Scientific 产品组合广泛，因此可以使用不同的技术来深入了解这类材料的光电特性和机制。 在本应用说明中，我们决定使用椭偏、稳态和时间分辨荧光以及辉光放电发射光谱来研究沉积在旋涂 PEDOT:PSS 上的 CH3NH3PbI3 薄膜，并且解决了材料暴露在空气中的影响。

脉冲式射频GD-OES的超快元素深度分析能力，常用于研究薄膜和厚膜。由于使用了脉冲射频源和高分辨率光谱仪，GD Profiler 2具有出色的深度分辨率，可以快速评估涂层质量。在本应用中我们剖析用作固体润滑剂的 MoS₂/Pb 复合多层样品。对此类样品的分析表明：GD Profiler 2在研究纳米级厚度的复合涂层时具有出色的性能。