通过一个ASOC-10 USB接口,FelixFL提供一整套数据采集支持,及控制所有系统的硬件配置和操作
PTI FelixGX还配备了PowerFit-10程序—全新的,强大的荧光和磷光寿命分析工具
FelixGX 控制:
- 脉冲光源频率
- 单色仪
- 转折镜的光路切换
- 自动狭缝
- 三栅塔轮
- 激发光源选择
- 发射检测器选择
- 自动偏振器
- 自动化多位样品支架
- Peltier控温装置
- 低温恒温器
- PMT检测器增益控制
- 数字模拟信号切换
- OPO激光器波长扫描
- 控制Tektronix示波器的寿命降低到100 ns
- 外部设备,如停流或滴定附件
FelixGX 采集模式
FelixGX 为光谱和动力学测量提供了多种采集模式:
- 激发和发射光谱扫描 ,用户自定义积分时间,单色仪步进和波长范围
- 时间动力学扫描,用户自定义采集时间和积分时间
- 光谱和时间动力学的偏振扫描,配置电动偏振器,自动测量G因子及偏振器各 方向的样品背景
- 激发发射比率荧光测试
- 多波长检测,配置常用荧光染料数据库或自定义染料波长测量
- 同步激发/发射扫描
- Strobe寿命测试控制
- TCSPC寿命测试控制
- 磷光寿命测试,用户自定义灯的闪烁频率和时间窗口
- 时间分辨发射扫描,用户自定义灯的闪烁频率,信号集成时间窗口,平均每个波长脉冲次数和扫描步进大小
- 时间分辨激发扫描(氙灯或OPO激光器),用户自定义灯的闪烁频率,信号集成时间窗口,平均每个波长脉冲次数和扫描步进
- 基于磷光时间的扫描,用户自定义长时间持续时间,信号集成时间窗和每点平均脉冲数
- 所有采集模式下PMT增益的软件控制
FelixGX 还可提供特定的高级运算,比如:
- 量子产率计算
- FRET计算
- CIE1931和1976色坐标计算
- 吸光计算
- 单壁碳纳米管结构计算
PowerFit-10 分析工具
并入FelixGX的PowerFit-10分析工具为寿命衰减数据分析提供了强大的分析功能。包括重卷积算法、数据称重(泊松或模拟)的选择、偏移和偏移参数、统计拟合优度参数(卡方、德宾-沃森、运行测试、残差和自相关)以及拟合参数的标准差
PowerFit-10 分析工具
- 1-4指数分析
- 1-4指数Batch分析
- 1-4指数Global分析
- 寿命各向异性衰减曲线
- DAS (寿命衰减相关光谱 )/TRES
- 指数级数法(ESM)寿命分布分析
- 最大熵法(MEM)寿命分布分析
- 胶束动力学分析
- 广延指数分析(Stretched exponential)