Imagem topográfica de grafeno adquirida simultaneamente com 256 × 256 pontos (direita) e mapa Raman composto (esquerda).
As análises de Raman e AFM (Microscopia de Força Atômica) podem ser combinadas em um único sistema de microscopia, abrindo novas e interessantes possibilidades e fornecendo informações aprimoradas sobre a composição e a estrutura da amostra, coletando informações físicas e químicas na mesma área da amostra. A medição AFM-Raman colocalizada consiste na aquisição sequencial ou simultânea de mapas sobrepostos de SPM (Microscopia de Varredura por Sonda) e Raman com correspondência pixel a pixel nas imagens.
Por um lado, a AFM e outras técnicas de microscopia de força atômica (SPM), como a microscopia de tunelamento de varredura (STM), a microscopia de força de cisalhamento ou a microscopia de força normal, fornecem propriedades topográficas, mecânicas, térmicas, elétricas e magnéticas com resolução molecular (~ nm, em uma área de μm²), por outro lado, a espectroscopia e a imagem Raman confocal fornecem informações químicas específicas sobre o material, com resolução espacial limitada pela difração (submicrométrica).
