Conçue pour être combinée à des spectroscopies optiques
La plateforme AFM permet d'utiliser la microscopie confocale Raman et l'AFM de façon entièrement intégrée pour les spectroscopies optiques exaltées par effet de pointe, telles que la spectroscopie Raman exaltée par effet de pointe (TERS) ou la photoluminescence exaltée par effet de pointe (TEPL), mais aussi pour les mesures AFM-Raman colocalisées.
Les nombreuses techniques AFM (microscopie à force atomique) qui permettent d'étudier les propriétés topographiques, électriques et mécaniques sont compatibles avec toutes les sources laser disponibles dans un spectromètre Raman, ou avec une autre illumination externe (par exemple, un simulateur solaire ou une autre source réglable ou continue). Les spectroscopies TERS et TEPL peuvent fournir des informations chimiques et structurelles à l'échelle nanométrique, faisant de la plateforme AFM-Raman un système bidirectionnel au sein duquel des techniques complémentaires s'échangent de nouvelles fonctions uniques d'imagerie.